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掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscopr(SEM)

掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscopr(SEM)
儀器簡介
Introduction
(1) 顯微組織觀察,提供二次電子(SE)影像和背向散射電子(BSE)影像,用於樣品表面形貌與組織之顯微觀察。BSE影像可以反映樣品化學組成上之差異。
(2) 微區化學成分定性、半定量及定量分析。
收費標準
Charge

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線上預約
Reservation
SEM SEM
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