掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscopr(SEM)
| 掃描式電子顯微鏡 Scanning Electron Microscopr(SEM) | |
| 儀器簡介 | (1) 顯微組織觀察，提供二次電子(SE)影像和背向散射電子(BSE)影像，用於樣品表面形貌與組織之顯微觀察。BSE影像可以反映樣品化學組成上之差異。 (2) 微區化學成分定性、半定量及定量分析。 |
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